Hofmeyer, J., Stewart, D., Berger, HS., Eydt, BC., Frantz, F., Granelli, F., Kontson, K., Murotake, D., Nolan, K., Pawelczak, P., Venkatesha Prasad, RR., Roy, R., Scoville, M., Sicker, D., Swain, D. & Tenhula, P., 2008, New York, NY: IEEE Society. 48 p.