Bandgap measurements using Electron Energy Loss Sprectroscopy (EELS) in a monochromated TEM

S Lazar, GA Botton, MY Wu, FD Tichelaar, HW Zandbergen

    Research output: Contribution to conferencePosterProfessional

    Original languageUndefined/Unknown
    Publication statusPublished - 2002
    EventWetenschappelijke vergadering van de FOM-werkgemeenschap voor de Gecondenseerde Materie - Veldhoven
    Duration: 17 Dec 200218 Dec 2002

    Other

    OtherWetenschappelijke vergadering van de FOM-werkgemeenschap voor de Gecondenseerde Materie
    Period17/12/0218/12/02

    Cite this